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| T5371能同测64个大容量存储器件，即它所具有的DRAM/SRAM测试功能可以对18bit或20bit带宽的存储器件进行测试。系统具有闪存（Flash Memory）功能从而防止错误的读与擦。T5371也允许逐块地对坏块进行测试，在每个DUT上对掩膜特性独立地进行控制以及达到同测64个器件的测试能力。因此，T5371能大幅度减少测试成本 | |
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增加了DRAM的前道工序的测试产能
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减少了闪存的后道工序的测试成本
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与T5300/5500测试系统高度兼容，可以利用相同的程序和HIFIX（测试接口），充分利用现有资源
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T5371 |
| 被测器件： |
DRAM, SDRAM, CDRAM, SRAM,
闪存, Direct RDRAM, EPROM, Mask ROM等 |
| 测试速度： |
70MHz |
| 同测能力： |
最多64器件 | |
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