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支持从300mm晶原探针的DRAM测试到闪存封装测试
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| T5375达到晶原探针测试时的同测256器件的高速同测能力。针对后道测试，T5375支持在测试速度方面与将来极具发展的闪存相同步（测试速度最高286MHz DDR模式）。此外，T5375可以同测128器件（同测能力2倍于以前的同类测试系统），从而达到高产能。 | |
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测试DRAM和闪存的功能与T5300系列测试系统相兼容
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存储器修理分析器（MRA4ev1）在性能和算法方面得到了改进
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T5375 |
| 被测器件： |
DRAM,
SDRAM, DDR器件,
SRAM, 闪存,
Direct
RDRAM, EPROM,
Mask ROM,等 |
| 测试速度： |
143/286MHz
(DDR 模式) |
| 同测能力： |
最多256器件
(128器件×2 stn;×8/×9bit) | |
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