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T5586能够对DDR-SDRAMs和波形抖动进行测试
T5585能够在500MHz同测128个DDR-SDRAMs
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| T5586和T5585在时钟频率250MHz（500MHz DDR速率）下都达到同测128 SDRAMs的能力。通过我们独特的液冷系统和集成测试单元，既保证了测试速度，又保证了测试系统的高稳定性以及生产效率。通过增加一个已在T5585上成功使用的特殊的DQS特性功能，使T5586有了针对DDR器件的输出选通脉冲和输出抖动进行实时测试的功能。 | |
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通过使用跟踪测试功能，能够对带有抖动功能的存储器器件进行测试
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达到在最高500MHz DDR数率下对DDR-SDRAM的高同测能力
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T5586 |
T5585 |
| 被测器件： |
DDR-SDRAM,
SSRAM等 |
DDR-SDRAM,
SDRAM,SSRAM等 |
| 测试速度： |
250/500MHz (DDR 模式) |
| 同测能力： |
最多128个器件 | |
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