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T5592
存储器测试系统
超高速存储器测试系统,数率可达1.066GHz
T5592达到超高速的测试频率1.066GHz,支持对RDRAM、SSRAM和发展中的DDR-SDRAM的测试。为了适应这些宽带宽器件的精确要求,T5592把一个线性时钟参考源和每管脚的时钟发生器集成到带有液冷系统且稳定的测试系统中去。除了极高的精度,T5592还提供64器件同测能力来提高产能
Direct RDRAM是Rambus公司的注册商标


533MHz/1.066GHz(DDR 模式)的高速测试


64器件同测的高产能


凭借独特的液冷系统达到高可靠性和稳定性
   
  T5592
被测器件: RDRAM, DDR-SDRAM, 高速SRAM等
测试速度: 533MHz/1.066GHz(DDR 模式)
同测能力: 最多64器件
IC测试系统
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