|
|
 |
|
 |
|
|
T5771达到低成本的闪存晶原测试
T5771ES提供T5771相同的功能
| |
|
T5771
|
|
|
|
| T5771达到高产能和同测128器件的高同测能力。通过采用测试阵列构架，T5771可以实现精确的高速测试和定时功能以缩短晶原的测试时间。T5771也提供十分快速的匹配功能（大约2倍于共享资源系统），而达到更高的产能。另外的闪存测试功能像不良坏块的捕捉和掩膜功能可以减少测试时间而提高产能。同时凭借100MHz速率的测试能力和On the Fly的时间条件，T5771能够在更多规格和更快速度上对下一代闪存器件进行测试。T5771ES包括T5771在单个测试点上所有的功能，有体积小的特点，能够完成器件开发、特性评估和相关性测试等测试系统的全部功能。 | |
|
 |
通过把功能测试的特性集成到测试头，T5771实现节电和高集成设计
|
|
T5771通过使用FutureSuite软件，减少了程序开发时间，缩短了Turnaround时间（TAT）
|
|
|
|
|
|
T5771ES拥有T5771测试阵列构架和100%的T5771的单测试工作站框架的规格和软件
|
|
|
|
|
|
|
| |
T5771 |
T5771ES |
| 被测器件： |
闪存(NOR type, NAND type,
等) |
| 测试速度： |
100MHz |
| 同测能力： |
最多128个器件 |
最多4个器件(针对8bit NAND类型) |
| 软件： |
FutureSuite | |
|
|
|
 |
|
T5771ES
| |
|
|
