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T6673 SoC测试系统达到灵活、高速测试并有效降低成本
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| T6673结合多CPU的多线程软件来缩短测试时间，并使用新的高速数据传输总线达到对相同器件（每个测试头可同测4器件）的高产能。结合多CPU和高速总线使多芯片同测成为可能。另外，每个设备都最少有4个前置端口以达到多芯片同测。T6673将可以用于测试快速更新的数码家电或新一代移动手机上的SoC器件，以及这些器件的所有规格。 | |
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达到高产能，8芯片同测。
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T6673测试系统在测试固件、测试程序以及配合测试机械手（Handler/Prober）方面与T6000系列测试机完全相兼容。
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T6673 |
| 被测器件： |
高速MPU、ASIC、SoC |
| 测试速度： |
125MHz/250MHz/500MHz（数率） |
| 管脚配置： |
1个测试点: 最多1024 I/O管脚
2个测试点: 最多512 I/O管脚 |
| 时钟发生器： |
6个时钟沿/管脚
32个时钟沿/管脚（On-the-Fly） |
| 同测能力： |
最大可达8个器件 | |
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